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3M™ 聚碳酸酯載帶 3002R 二維條碼系列將極小的口袋開口半徑設計、口袋公差控制與獨特的二維條形碼追蹤系統的優點相結合。二維條碼被打印於載帶上,而不是雷射蝕刻到晶片本身,從而消除了對表面雷射損壞晶片的擔憂,並有助於在晶片太小而無法進行雷射條碼的應用中實現跟蹤和追溯晶片的功能。小的開口半徑控制和精確的口袋公差有助於減少晶元旋轉、傾斜和滑動以及對半導體晶元的損壞。二維條碼提供了高度保真的資訊,可以快速清晰地讀取,以説明滿足半導體生產過程的要求。
3M™聚碳酸酯載帶3002R 二維碼系列具有 (<0.1 mm)的倒角半徑控制功能,二維碼印製於載帶上,而不是雷射打印到晶片本身。用於超薄半導體封測,方便提高生產量和二維碼追溯的能力。
3M將每個獨特的二維碼直接應用於精密成型載帶的每個口袋。二維碼功能可以實現高效率的掃描讀取,相比於將二維碼印製於越來越小和越來越薄的晶片上的效果更顯著。
3M將獨特的二維碼應用於載帶口袋,省去了二維碼雷射蝕刻到半導體晶片的生產步驟。每個晶片都可以在載帶上被有效的掃描和讀取,無需增加額外的時間或擔心灰塵汙染。
口袋倒角半徑控制在<0.1 mm/0.12 mm,口袋公差降至±0.02 mm。3M™ 聚碳酸酯載帶3002R 二維碼系列有助於減少與運輸超薄模晶片相關的晶片傾斜、遷移、開裂和錯位。
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